據(jù)估計(jì)，電子業(yè)的覆蓋面很廣，離不開我們的手機(jī)電腦，它們都是由大小電子元件組成，電子元件的性能與使用環(huán)境有著很大的關(guān)系;例如，在夏天，我們的手機(jī)會(huì)發(fā)燙，有時(shí)甚至無法使用，而在冬天，同樣會(huì)出現(xiàn)低溫提示。因此，電子業(yè)的高低溫測(cè)試很必要。我司是一家的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備制造企業(yè)。我們?cè)诤芏囝I(lǐng)域有很成功的合作經(jīng)驗(yàn)，今天就來詳細(xì)介紹一下環(huán)境測(cè)試設(shè)備，如臺(tái)式恒溫恒濕試驗(yàn)箱在電子元件領(lǐng)域的應(yīng)用。

　　(1)高溫儲(chǔ)存。

 

　　電子器件的高效率主要是由體內(nèi)外各種物理和化學(xué)變化引起的，這些變化都與溫度密切相關(guān)。在溫度上升后，化學(xué)反應(yīng)速度大大加快，并加速了高效率過程。使缺陷部件能夠及時(shí)暴露并被剔除。

 

　　測(cè)試原理：高溫篩選簡(jiǎn)單，成本較低，可應(yīng)用于多種元件。經(jīng)過高溫貯存后，也可使元件參數(shù)性能穩(wěn)定，減少使用過程中的參數(shù)漂移。對(duì)各種元件的熱應(yīng)力及篩選時(shí)間要適當(dāng)選擇，以免產(chǎn)生新的失效機(jī)制。

 

　　測(cè)試方法：高溫篩選廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體器件中，它可以有效地容易地去除失效機(jī)制如表面沾污、粘合不良、氧化缺陷等的器件。將樣品置于高溫、低溫測(cè)試箱的很高溫度下保存24~168小時(shí)。

 

　　(2)電力電老煉。

 

　　在甄選過程中，由于熱電應(yīng)力的共同作用，在元件內(nèi)部和表面都有許多潛在的缺陷，甄選是可靠性甄選中的一項(xiàng)重要工作。

 

　　測(cè)試原理：各種電子元件一般在額定功率條件下老煉幾小時(shí)至168小時(shí)，有些產(chǎn)品，如集成電路，條件不能隨意改變，但可采用高溫工作方式，提高工作結(jié)溫度，達(dá)到高應(yīng)力狀態(tài)，對(duì)各種元件的電應(yīng)力要適當(dāng)選擇，可相當(dāng)于或略高于額定條件，但不能引出新的失效機(jī)理。

 

　　測(cè)試方法：老煉功率要求有專門的測(cè)試設(shè)備，例如臺(tái)式恒溫恒濕試驗(yàn)箱﹑快速溫變測(cè)試箱等，一般幾個(gè)小時(shí)就能測(cè)試到民用產(chǎn)品，高可靠軍事產(chǎn)品可選擇100,168小時(shí)，航天級(jí)元件可選擇240小時(shí)，甚至更長(zhǎng)的周期。